171(М) Електроніка та комп’ютерна діагностика автомобілів

Permanent URI for this collection

http://193.186.15.27:4000/handle/123456789/85

Browse

Browsing 171(М) Електроніка та комп’ютерна діагностика автомобілів by Subject "тестування електронних виробів"

Now showing 1 - 1 of 1
  • No Thumbnail Available
    Item
    Застосування методу сигнатурного аналізу для перевірки мікросхем
    (State University of Intelligent Technologies and Telecommunications, 2024) Врублєвський Р. Є.
    У магістерській роботі автором висвітлені наступні питання: представлена загальна характеристика технологічного процесу тестування електронних виробів; визначені особливості розробки та дослідження лінійного внутрішньо схемного тестування; розроблено цифрове внутрішньо схемне тестування; проведено проектування структури системи та вибору технічних засобів реалізації; описані технічні засоби реалізації, схеми та конструкції системи. Практична складова дипломної роботи втілена в розробці структурної схеми пристрою та блоку живлення. Після вибору елементної бази результатом виконаної роботи стала розробка принципової схеми проектованого пристрою, була розрахована собівартість та ціна даного пристрою.