Врублєвський Р. Є.2024-10-222024-10-222024http://193.186.15.27:4000/handle/123456789/471Застосування методу сигнатурного аналізу для перевірки мікросхем [кваліфікаційна (магістерська) робота зі спеціальності 171 Електроніка; ОПП «Електроніка»] / Наук. кер.: к.п.н., доц. О. І. Кисельова; Державний університет інтелектуальних технологій і зв’язку. Одеса : ДУІТЗ, 2024. 62 с.У магістерській роботі автором висвітлені наступні питання: представлена загальна характеристика технологічного процесу тестування електронних виробів; визначені особливості розробки та дослідження лінійного внутрішньо схемного тестування; розроблено цифрове внутрішньо схемне тестування; проведено проектування структури системи та вибору технічних засобів реалізації; описані технічні засоби реалізації, схеми та конструкції системи. Практична складова дипломної роботи втілена в розробці структурної схеми пристрою та блоку живлення. Після вибору елементної бази результатом виконаної роботи стала розробка принципової схеми проектованого пристрою, була розрахована собівартість та ціна даного пристрою.otherмікросхематестування електронних виробівсигнатурний аналізконструкція системиOther